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Department for Earth Science



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Rasterelektronenmikroskop LEO VP 1455

Ansprechpartner: Prof. Gerhard Schmiedl oder Dipl. Geol. Yvonne Milker

Das Geologisch-Paläontologische Institut verfügt über ein Rasterelektronenmikroskop (REM) des Typs LEO VP 1455 der Firma Zeiss (Abb.1). Das Rasterelektronenmikroskop bietet gegenüber dem Lichtmikroskop den Vorteil der höheren Vergrößerung und größerer Tiefenschärfe, wodurch die Untersuchung sehr kleiner Objekte wie Mikro- und Nannofossilien ermöglicht wird. Aufgrund der entstehenden charakteristischen Röntgenstrahlung besteht die Möglichkeit, Proben im Hinblick auf ihren Elementgehalt zu analysieren.

Abb.1: Rasterelektronenmikroskop LEO VP 1455

Die Wirkungsweise eines REMs ist relativ einfach: An einer Kathode werden durch Anlegen einer Hochspannung unter Hochvakuum Elektronen emittiert, die aufgrund der Potentialdifferenz zur Anode hin beschleunigt werden. Der resultierende Elektronenstrahl wird über ein System von elektromagnetischen Linsen gebündelt und letztlich über Ablenkspulen rasterartig über die Probenoberfläche geleitet. Durch die Interaktion des Elektronenstrahls mit der Probe werden zum einen niederenergetische Sekundärelektronen emittiert; zum anderen kommt es zur Bildung von hochenergetischen Rückstreuelektronen, Röntgenstrahlung sowie Kathodenlumineszens. Die entstehenden Signale können mit verschiedenen Detektoren aufgefangen werden.

Ausgestattet ist das LEO VP 1455 mit einem Sekundärelektronen-Detektor zur Bilddokumentation, die vor allem im (mikro-)paläontologischen Bereich genutzt wird (Abb.2).

Abb.2: Rezente benthische Foraminiferen des westlichen Mittelmeeres (Li: Spiroplectinella sagittula, Mitte oben: Rosalina bradyi, Mitte unten: Cassidulina laevigata, Rechts oben: Neocornobina terquemi, Rechts unten: Elphidium complanatum) aufgenommen mit dem SE-Detektor (Aufn. Y. Milker).

Darüber hinaus verfügt es über einen Detektor zur Erfassung von rückgestreuten Elektronen (BSE-Detektor), wodurch es beispielsweise möglich ist, Aussagen über den Materialkontrast und damit die Verteilung verschiedener Materialien in Gesteinsdünnschliffen machen zu können (Abb.3).

Abb.3: Li: Pisolith, aufgenommen im BSE-Modus Aufn. G. Ries) Re: angewitterter Glimmer, aufgenommen im BSE-Modus (Aufn. G. Ries)

Die am REM angeschlossene Analytikeinheit INCA der Firma Oxford ermöglicht es, die bildgebenden mikromorphologischen Fähigkeiten des REM als auch die analytischen der EDX zu kombinieren (Abb.4).

Abb.4: Elementmappings eines Chrom-Spinells und der umgebenden Matrix. Li oben: rot = Calcium, grün = Silizium, blau = Chrom; Li unten: rot = Calcium, grün = Titan, blau = Chrom; Mitte oben: Aluminium; Mitte unten: Silizium; Rechts oben: Titan; Rechts unten: Magnesium (Aufn./ Mapping G. Ries)

Außerdem ist das Arbeiten unter geringerem und variablem Vakuum durch einen am Gerät angeschlossenen Variable Pressure-Detektor möglich, was den Vorteil bietet, dass das Probenmaterial nicht bedampft werden muss.

 

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