Institut für Angewandte Physik (IAngPh)

Jungiusstraße 11
20355 Hamburg
Telefon: (040) 42838-5244
Fax: (040) 42838-6188
Emailadresse: wiesendanger~AT~physnet.uni-hamburg.de 

Homepage

Forschungsschwerpunkte

• Grenz- und Oberflächenphysik
• Rastersensormethoden
• Nanostrukturphysik
• Halbleiterphysik
• Supraleitung und Magnetismus
• Wachstum von Schichten
• Theorie der Nano- und Spinelektronik 

Dienstleistungsangebot

• Beratung
• Erstellung von Gutachten
• Durchführung von Forschungs-, Entwicklungs-, Untersuchungs- und Messaufträgen sowie Übernahme von Test- und Erprobungsanwendungen in den genannten Forschungsschwerpunkten, insbesondere:
  • Messung physikalischer Eigenschaften verschiedener Materialien (Metalle, Halbleiter, Isolatoren) auf der Skala von Mikrometern und Nanometern mit Hilfe von Rastersensormethoden
  • Durchführung der Elementanalyse und der mikrostrukturellen Charakterisierung im Bereich der Oberflächen- und Mikrostrukturanalytik
  • Untersuchung und Charakterisierung von unterschiedlichen Materialsystemen mit Hilfe der Raman- und Mikro-Raman-Spektroskopie
  • Herstellung und Charakterisierung ultradünner magnetischer Filme
  • Durchführungen von Beschichtungen im Bereich der Dünnschichttechnologie (PVD) für die Anwendungsbereiche Metallisierungen, optische Schichten u.a.
• Führungen durch das Institut sowie Ausstellung auf Anfrage

Kooperation mit der Praxis

• Auftragsforschung
• gemeinsame Verbundprojekte (BMBF, EU)

Zielgruppe / Kundenkreis

• KMU
• Großindustrie
• Forschungseinrichtungen der MPG, FhG, HGF, u.a.

Auftragsforschung

• Servicemessungen
• Beschichtungen
• Entwicklung physikalischer Messtechnik 

Forschungsprojekte

• SFB 508 "Quantenmaterialien - laterale Strukturen, hybride Systeme und Cluster"

Publikationen

• Broschüre: Microstructure Advanced Research Center Hamburg, Hamburg 1996
• Ausstellungsführer: Nanotechnologie - Aufbruch in neue Welten
• Broschüre: Rastersondenmethoden in der Nanotechnologie
• Broschüre (in Vorbereitung): Center for Solid State and Nanostructure Physics 2004

Geräteausstattung

• Rastersensormikroskopie (Rastertunnel-, Rasterkraftmikroskopie u.a.)
• Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie
• Röntgen-Mikrobereichsanalyse
• Röntgenfluoreszenzanalyse
• Röntgen- und UV-Photoelektronenspektroskopie
• Auger-Elektronenspektroskopie
• Elektronenbeugung
• Elektronenstrahllithographie
• Hochfrequenz-, Mikrowellen-, Infrarot-, optische Laser- und UV-Spektroskopie
• Magnetometrie
• Molekularstrahlepitaxie
• Beschichtungsanlagen
• u.a.

Ansprechpartner